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现代物理知识  1991, Vol. 3 Issue (02): 8-10    DOI:
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化合物半导体—绝缘体界面的界面态
何力
 全文: PDF (324 KB)   HTML (1 KB)   输出: BibTeX | EndNote (RIS)      背景资料
摘要 为了表彰我国年青的物理学家所作出的突出贡献,本刊新辟《青年物理学家论坛》栏目.本期由国际著名物理学家黄昆教授主持,他亲自审阅何力这篇文章,认为“这篇文章内容比较丰富,阐述也是扼要清晰可读的,可以发表”.何力于1982年赴日本留学,1985年在东京电气通讯大学获硕士学位,1988年在北海道大学获博士学位.他在半导体化合物的界面态研究方面取得了出色的成果,在已发表的近30篇论文有5篇发表在国际一级杂志上.他的导师长谷川机教授称赞他是一位富有想象力的优秀科学家.他在1989年度的863高技术任务完成情况评比中获得专家组的最高评分,并于1990年获德国洪堡奖学金,现已赴德继续从事HgCdTe分子束外延与超晶格的研究工作.
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何力
关键词界面态   化合物半导体   绝缘体   无序层   频率色散   电学特征   半导体界面   滞后效应   S模型   何力     
Abstract
Key words:   
收稿日期: 1990-09-09;
引用本文:   
何力. 化合物半导体—绝缘体界面的界面态[J]. 现代物理知识, 1991, 3(02): 8-10.
$author.xingMing_EN. [J]. Modern Physics, 1991, 3(02): 8-10.
 
没有本文参考文献
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