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现代物理知识  2001, Vol. 13 Issue (05): 19-23    DOI:
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软X射线发射谱及其应用
王文采
北京大学物理系 100871
 全文: PDF (2398 KB)   HTML (1 KB)   输出: BibTeX | EndNote (RIS)      背景资料
摘要 20世纪前期,人们即认识到X射线发射谱是研究固体电子结构的重要技术。它是由于电子从已填充能态向组成粒子(原子或离子)内层原子实能级的跃迁而产生,因此,反映了固体中的电子按能态的分布。然而,因为实验条件和理论研究的限制,发展很慢。60年代光电子谱学的兴起,更在很大程度上减少了人们对这种研究方法的注意。近十几年来,X射线发射谱学(XES),特别是软X射线发射谱学(SXES)获得了迅速发展,取得了不少重要的研究成果。这是与实验条件和理论工作的重大进展,此研究方法的一些独特优点及其多方面的应用价值密切相关的。X射线发射谱具有以下主要的优点。
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王文采
关键词发射谱   X射线   电子结构   软X射线   金刚石膜   光电子谱   费米能级   中间态   同步辐射光源   碳纳米管     
Abstract
Key words:   
收稿日期: 2000-10-09;
引用本文:   
王文采. 软X射线发射谱及其应用[J]. 现代物理知识, 2001, 13(05): 19-23.
$author.xingMing_EN. [J]. Modern Physics, 2001, 13(05): 19-23.
 
没有本文参考文献
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