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现代物理知识  2001, Vol. 13 Issue (04): 26-27    DOI:
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扫描探针显微术与纳米科技
尹世忠, 赵喜梅
邢台师范高等专科学校, 河北 054001
 全文: PDF (411 KB)   HTML (1 KB)   输出: BibTeX | EndNote (RIS)      背景资料
摘要 扫描探针显微术(ScanningProbeMicroscopy,SPM)是80年代初发展起来的一类新型的表面研究新技术,其核心思想是利用探针尖端与表面原子间的不同种类的局域相互作用来测量表面原子结构和电子结构。它的出现使得纳米科技在近十年来得到了突飞猛进的发展。1.扫描探针显微术扫描探针显微术中最早研制成功的是扫描隧道显微镜(ScanningTunnelingMicroscopy,STM),它是宾尼和罗雷尔于1981年发明的,二人1986年因此被授予诺贝尔物理奖。
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尹世忠
赵喜梅
关键词扫描探针   显微术   纳米科技   纳米材料   纳米技术   隧道电流   表面原子结构   纳米电子学   扫描隧道显微镜   纳米微粒     
Abstract
Key words:   
收稿日期: 2000-08-18;
引用本文:   
尹世忠,赵喜梅. 扫描探针显微术与纳米科技[J]. 现代物理知识, 2001, 13(04): 26-27.
$author.xingMing_EN,$author.xingMing_EN. [J]. Modern Physics, 2001, 13(04): 26-27.
 
没有本文参考文献
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