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现代物理知识  2000, Vol. 12 Issue (02): 32-33    DOI:
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扫描显微探针
吴雪, 张天浩, 颜彩繁, 陈自宽, 陈海建, 王磊光, 李增发
南开大学物理学院, 天津 300071
 全文: PDF (214 KB)   HTML (1 KB)   输出: BibTeX | EndNote (RIS)      背景资料
摘要 随着1982年世界上第一台原子分辨的隧道扫描显微镜(STM)问世,掀起了对物质表面微结构研究的热潮,而且蔓延到表面化学以及生物大分子等领域.同时对STM原理及检测技术的推广,促使了原子力显微镜(AFM)、近场光学显微镜(SNOM)的发明.现在,以STM、AFM、SNOM为代表的高分辨显微镜已经形成了一类新的显微成像技术──扫描探针显微术(SPM).SPM最显著的特点就是采用一个极微小的探针(针尖一般在纳米尺度),在样品表面极小的距离内移动,同时获得样品表面信息.当这极小的探针与样品表面的相互作用强烈依赖于极小的距离(大约是指数关系),仪器的稳定性则是获得理想图像的关键.
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吴雪
张天浩
颜彩繁
陈自宽
陈海建
王磊光
李增发
关键词多壁碳纳米管   扫描探针显微镜   生物样品   物理学院   纳米加工   南开大学   原子操纵   纳米尺度   交流腐蚀   纵向分辨率     
Abstract
Key words:   
收稿日期: 1999-04-12;
引用本文:   
吴雪,张天浩,颜彩繁等. 扫描显微探针[J]. 现代物理知识, 2000, 12(02): 32-33.
$author.xingMing_EN,$author.xingMing_EN,$author.xingMing_EN et al. [J]. Modern Physics, 2000, 12(02): 32-33.
 
没有本文参考文献
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